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Product CenterFRITSCH A22 NeXT Nano干法激光粒度儀(納米型)可干濕兩用,可以讓您根據(jù)自己的需求選擇測量范圍:擁有更大測量范圍的ANALYSETTE 22 NeXT 納米型,測量范圍拓展至0.01-3800μm,納米型激光粒度儀擁有的測量精度,附加的檢測器能夠更靈敏的分辨極小的顆粒。
ANALYSETTE 22 NeXT 進口干濕法一體激光粒度儀可以讓您根據(jù)自己的需求選擇測量范圍。ANALYSETTE 22 NeXT 微米型測量范圍為0.5–1500 µm,用于大多數(shù)常規(guī)樣品的測量需求;或者您可以選擇擁有更大測量范圍的ANALYSETTE 22 NeXT 納米型,測量范圍拓展至0.01-3800μm,納米型激光粒度儀擁有很高的測量精度,附加的檢測器能夠更靈敏的分辨很小的顆粒。
Analysette 22 NanoTec靜態(tài)激光粒度儀,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。z低檢測下限可達0.01um。程激光粒度儀A22的推出,可以*替代之前Fritsch公司所生產的緊湊型、微米型、程微米型激光粒度儀。
聯(lián)系人:楊經理
郵箱:bill_lee@fritsch.cn
地址:北京市朝陽區(qū)裕民路12號E1座一層108室
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